高低溫沖擊篩選試驗箱

簡要描述：高低溫沖擊篩選試驗箱集多種機型于一體的功能設計，一次性解決您的需求，滿足不同產(chǎn)品不同試驗的多樣性與多變性，提高機臺的利用率和工作效率。應力篩選復合試驗箱適用于對整機產(chǎn)品、元器件、零部件、材料等進行溫度儲存、慢速溫度循環(huán)3~5℃/min、應力篩選5~15℃/min、快速溫變15~30℃/min、冷熱沖擊試驗、檢驗產(chǎn)品在試驗過程中本身的適應能力與特性是否改變。

所屬分類：冷熱沖擊快速溫變試驗箱

更新時間：2024-05-23

廠商性質：生產(chǎn)廠家

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詳情介紹

品牌	SETH/賽思	價格區(qū)間	20萬-50萬
產(chǎn)地類別	國產(chǎn)	應用領域	能源,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣

高低溫沖擊篩選試驗箱改變了以往為進行溫度儲存、溫度循環(huán)、高低溫沖擊兩箱式、高低溫+常溫沖擊三箱式、應力篩選ESS試驗，至少需要購買四臺設備的狀況。集多種機型于一體的功能設計，一次性解決您的需求，滿足不同產(chǎn)品不同試驗的多樣性與多變性，提高機臺的利用率和工作效率。應力篩選復合試驗箱適用于對整機產(chǎn)品、元器件、零部件、材料等進行溫度儲存、慢速溫度循環(huán)3~5℃/min、應力篩選5~15℃/min、快速溫變15~30℃/min、冷熱沖擊試驗、檢驗產(chǎn)品在試驗過程中本身的適應能力與特性是否改變。每種產(chǎn)品都有其自身適用的環(huán)境應力篩選方法，產(chǎn)品在試驗過程中將受到設定的應力作用，產(chǎn)品的各零件、材料運用等方面的缺陷將被提前發(fā)現(xiàn)，以便于更好的改進產(chǎn)品的設計和應用。

高低溫沖擊篩選試驗箱標準：

TSR(斜率可控制)[5℃～30 ℃/min]	30℃/min→	電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗
	28℃/min→	LED汽車照明燈
	25℃/min→	PCB的產(chǎn)品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應
	24℃/min→	光纖連接頭
	20℃/min→	IPC－9701 、覆晶技術的溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機系統(tǒng)&端子、改進導通孔系統(tǒng)信號比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命

	17℃/min→	MOTO
	15℃/min→	IEC 60749－25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器電子組件溫度循環(huán)測試(家電、計算機、通訊、民用航空器、工業(yè)及交通工具、汽車引擎蓋下環(huán)境)
	11℃/min→	無鉛CSP產(chǎn)品溫度循環(huán)測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A
	10℃/min→	通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測試
	5℃/min→	錫須溫度循環(huán)試驗

技術規(guī)格：

型號	SER-A	SER-B	SER-C	SER-D
內箱尺寸 W x D x H cm	40×35×35	50×50×40	60×50×50	70×60×60
外箱尺寸 W x D x H cm	140×165×165	150×200×175	160×225×185	170×260×193
溫度范圍	-80.00℃～+200.00℃
低溫沖擊范圍	-10.00℃～-40℃//-55℃//-65.00℃
高溫沖擊范圍	+60.00℃～+150.00℃
時間設定范圍	0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment
溫度波動度	≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示）
溫度偏差	≤±2℃（-65℃～+150℃）
溫度均勻度	＜2.00℃以內
溫變速率（斜率）	+5℃～+30℃/min(+40℃)
溫變范圍	-55℃～+85℃//+125℃